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產品中心
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,電子,印刷包裝,航天,汽車 |
用于質量控制的庫侖法鍍層厚度測量儀
在一定的厚度以上，X射線熒光對鍍層的無損測量達到了極限，這就是COULOSCOPE®CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準確地測量許多常見的單層和多層鍍層。用于質量控制的庫侖法鍍層厚度測量儀
庫侖法的成本效益高，可準確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了很大的靈活性，因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質量控制中，以及用于監(jiān)測印刷電路板上的殘余純錫厚度。
STEP測試:庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳的電化學電位測量
如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時測量電化學電勢，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測試方法可以同時測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度，非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。
特性
高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)
根據(jù)DIN EN ISO 2177進行測量
通過彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作
可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)
針對不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預先設定了近100種測量應用
測量單元上電壓曲線的圖形顯示
圖形和統(tǒng)計評估
帶支撐架的部分自動化測量，適用于各種樣品尺寸
全面的配件組合，以適應特定的要求
COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能
同時測量鍍層厚度和電位差
根據(jù)ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進行電位差測試
銀參比電極測量前的準備工作(產生必要的AgCl層)
電解電流可調整
可直接在測厚儀顯示器上評估電位曲線
應用
電鍍生產過程中的監(jiān)控和成品的進廠檢驗
可以準確測量多種金屬鍍層的厚度0.05–50µm(根據(jù)材料不同)
金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測量
多鍍層體系：例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層
雙鍍層體系：例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳
單鍍層如鐵上鍍鋅
COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應用
STEP測試：在銅、鐵、鋁或塑料襯底(ABS)上的多層鎳層系統(tǒng)
篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產品資源和服務，涵蓋光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設備，努力為客戶解決日新月異的測量分析技術挑戰(zhàn)，共同提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標。
