費希爾v1fga1hr34膜厚測試儀探頭

• 更新時間：2021-04-13
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費希爾v1fga1hr34膜厚測試儀探頭
v1fga1hr34用于測量孔，管道或凹槽中的內(nèi)部涂層。 小內(nèi)徑為7毫米。帶微處理芯片智慧型插拔式磁感應(yīng)探頭。特殊的探頭用于測量直徑大于7mm的軸套或管子內(nèi)部涂層。

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 費希爾v1fga1hr34膜厚測試儀探頭：探針是用于通過磁感應(yīng)和渦流方法測量涂層厚度的系統(tǒng)中非常關(guān)鍵的部件。 這就是FISCHER花費大量精力和資源進(jìn)行探針開發(fā)和質(zhì)量控制的原因。面對幾乎所有的工業(yè)應(yīng)用，FISCHER都可以提供合適的探頭。這些都是針對各種不同的測量應(yīng)用而定制的高精度裝置。經(jīng)過多年的不斷發(fā)展和創(chuàng)新，F(xiàn)ISCHER已經(jīng)設(shè)計出了幾百種的探頭，為的就是達(dá)到很高精度的理想測量結(jié)果。當(dāng)然，F(xiàn)ISCHER還提供全面、專家級的咨詢服務(wù),可以協(xié)助您根據(jù)任何給定的測量應(yīng)用選擇合適的探頭。

FISCHER探頭非常堅固和耐磨，即使經(jīng)過多次測量，甚至長期在堅硬表面使用也仍然可以提供準(zhǔn)確的測量結(jié)果。所有探頭都是根據(jù)嚴(yán)格的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)在公司內(nèi)部開發(fā)和生產(chǎn)的。每個探頭進(jìn)行單獨的廠內(nèi)校準(zhǔn)以確保很高程度的準(zhǔn)確度。為了補(bǔ)償圓形樣品的弧面的影響，還專門開發(fā)了采用電渦流法的特殊探頭。此外，F(xiàn)ISCHER**的電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)可使用于所有電渦流探頭，使得可以根據(jù)底材（例如：鋁）的電導(dǎo)率的不同進(jìn)行調(diào)整，這樣就無需在現(xiàn)場對實際底材進(jìn)行耗時的校正，而依然可以保持很高的準(zhǔn)確度 。

費希爾v1fga1hr34膜厚測試儀探頭，用于測量孔，管道或凹槽中的內(nèi)部涂層。 小內(nèi)徑為7毫米。帶微處理芯片智慧型插拔式磁感應(yīng)探頭。特殊的探頭用于測量直徑大于7mm的軸套或管子內(nèi)部涂層。手柄到測量元件的長度為100mm，亦即可測量的*大距離。測量鋼或鐵基材上的有色金屬和非金屬涂層。 適用于在鉆孔，管道或凹槽中進(jìn)行測量。 為了降低誤差，在測量較小的內(nèi)徑時應(yīng)使用外部觸發(fā)的測量采集。 小允許內(nèi)徑：7毫米。 大插入深度：60毫米。
測量范圍：0-1000 μm（NF/Fe） 0-40 mils
該價格中包括：Fe 基準(zhǔn)板和校準(zhǔn)片
測量原理：磁感應(yīng)

主要參數(shù)：

探頭設(shè)計：單觸點探頭，用于帶有固定測量系統(tǒng)的內(nèi)部測量應(yīng)用
測量模式：單功能
測量原理：磁感應(yīng)
測量應(yīng)用：NF, Iso/Fe 
測量范圍：0-1000 μm（NF/Fe） 0-40 mils
測量精度：0 - 50μm: 0.5μm；50 - 1000μm: 1 %
測量誤差：0 - 100μm: 0.2μm；100 - 1000μm: 0.2 %

常用探頭參數(shù)：（對于探頭的選擇，我們建議您選擇適合您應(yīng)用的探頭，您可以索取《探頭與配件》樣本來了解更多關(guān)于探頭的信息。 ）

篤摯儀器（上海）有限公司是德國菲希爾測厚儀膜厚儀，菲希爾fischer膜厚測試探頭的專業(yè)經(jīng)銷商，公司宗旨:公司一貫堅持“質(zhì)量,用戶至上,優(yōu)質(zhì)服務(wù),”的宗旨,憑借著高質(zhì)量的產(chǎn)品,良好的信譽(yù),優(yōu)質(zhì)的服務(wù),產(chǎn)品**.竭誠與國內(nèi)外商家雙贏合作,共同發(fā)展,共創(chuàng)輝煌! 篤摯儀器（上海）有限公司是從事測試儀器儀表設(shè)備的代理、銷售和服務(wù)的專業(yè)性公司。與國內(nèi)外較有名儀表生產(chǎn)廠商有著廣泛的技術(shù)與銷售合作的良好基礎(chǔ)，秉承“誠信、進(jìn)取、團(tuán)結(jié)、創(chuàng)新”的企業(yè)精神，廣泛服務(wù)于國內(nèi)科研、教育、工業(yè)、醫(yī)療和政府機(jī)構(gòu)。